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桓銘科技
信賴度系統
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WHAT WE PROVIDE
讓客戶利用既有儀器設備資源,搭配桓銘科技開發的控制模組,以最佳性價比達到快速自動化/客製化的半導體信賴度測試服務。
TDDB
時依性介電層崩潰
HTRB
高溫反向偏壓測試
儀器控制系統
開發可控制電源與電表供設備使用
EM
電遷移
DP 資料中心
桓銘開發之線上監控系統
信賴度測試軟體
客製非常規
HCI
熱載子效應
電流電壓量測系統
依客戶需求同時監控數據與即時切出通道量測
信賴度測試設備
客製化信賴度測試設備